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开关电源测试系统_开关电源问题实例解析



开关电源测试系统_开关电源问题实例解析

现象:高温测试的时候,MOSFET的壳温才80度,就炸机了。先前几台,MOS的壳温到达110度,都安然无事。

解决办法:弄出来查原因,是驱动电阻焊错了,本来10R,结果焊成100R。

分析:驱动电阻太大导致MOS损耗很大,同样的结到壳热阻,大的功耗会导致大的温差。虽然壳温才80度,但实际结温已经超过了MOS的承受范围。

驱动电阻大了,会造成驱动的功率严重不足,而将管子热死了!

如果驱动功率足够大的话,也不会炸机的。

如果PCB走线引起的电感足够大,将与MOS的GS端的电容Cgs谐振,会在驱动信号上线叠加尖峰,严重时会引起炸机,加电阻就是为了衰减这个振荡

项目:L4981 PFC

现象:空载上电,驱动乱的不得了,震荡频率明显变化。输入电压越高越厉害。开始以为,地线没布好,PCB割了又割,都是不能解决。

解决办法:仔细察了一下PCB ,发现有一根功率线立离控制电路比较近,该功率线连接的是MOSFET的D极。把该功率线隔断,让功率电流从远离控制电路的地方绕过去,没用。把靠近控制电路的PCB铜线弄成孤岛,使之成为死铜,干扰消失。

分析:电场干扰,MOS的D极是dv/dt很大的地方,产生很大的共模干扰。所以控制电路要尽量远离这个点。

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